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SJ 21147.3-2016 军用集成电路电磁发射测量方法 第3部分:辐射发射测量-表面扫描法
标准号:
SJ 21147.3-2016
确认有效
SJ 21147.5-2016 军用集成电路电磁发射测量方法 第5部分:传导发射测量-工作台法拉第笼法
标准号:
SJ 21147.5-2016
确认有效
SJ 50597/66-2016 320F2812型32位定点数字信号处理器详细规范
标准号:
SJ 50597/66-2016
确认有效
SJ 21147.2-2016 军用集成电路电磁发射测量方法 第2部分:辐射发射测量-TEM小室和宽带TEM小室法
标准号:
SJ 21147.2-2016
确认有效
SJ 21058-2016 WXF0812-P41型功率放大器芯片规范
标准号:
SJ 21058-2016
确认有效
SJ 21061/1-2016 RP28D 型制冷型红外焦平面探测器陶瓷连接件详细规范
标准号:
SJ 21061/1-2016
确认有效
SJ 21061/2-2016 RP44型制冷型红外焦平面探测器陶瓷连接件详细规范
标准号:
SJ 21061/2-2016
确认有效
SJ 21062-2016 半导体芯片产品处理、包装和贮存的操作要求
标准号:
SJ 21062-2016
确认有效
SJ/T 11585-2016 串行存储器接口要求
标准号:
SJ/T 11585-2016
现行
SJ 20668.1-1998 微电路模块ML3010A型对数放大器详细规范
标准号:
SJ 20668.1-1998
现行
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