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电子元件及电子专用材料制造
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T/ZZB 1566-2020 超薄扬声器用永磁铁氧体
标准号:
T/ZZB 1566-2020
现行
T/CPIA 0021-2020 绿色设计产品评价技术规范 光伏硅片
标准号:
T/CPIA 0021-2020
现行
T/CPIA 0022-2020 光伏硅片制造业绿色工厂评价要求
标准号:
T/CPIA 0022-2020
现行
T/IAWBS 008-2019 SiC晶片的残余应力检测方法
标准号:
T/IAWBS 008-2019
现行
T/IAWBS 009-2019 功率半导体器件稳态湿热高压偏置试验
标准号:
T/IAWBS 009-2019
现行
T/IAWBS 010-2019 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法
标准号:
T/IAWBS 010-2019
现行
T/IAWBS 011-2019 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法
标准号:
T/IAWBS 011-2019
现行
T/IAWBS 012-2019 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法
标准号:
T/IAWBS 012-2019
现行
T/IAWBS 013-2019 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法
标准号:
T/IAWBS 013-2019
现行
T/CASAS 004.2-2018 4H碳化硅衬底及外延层缺陷图谱
标准号:
T/CASAS 004.2-2018
现行
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