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SJ/Z 9015.1-1987 半导体器件 集成电路 第一部分:总则
标准号:
SJ/Z 9015.1-1987
已作废
SJ 2817-1987 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
标准号:
SJ 2817-1987
已作废
SJ 20954-2006 集成电路锁定试验
标准号:
SJ 20954-2006
现行
SJ 20938-2005 微波电路变频测试方法
标准号:
SJ 20938-2005
已作废
SJ 20961-2006 集成电路a/d和d/a转换器测试方法的基本原理
标准号:
SJ 20961-2006
现行
SJ 20802-2001 集成电路金属外壳目检标准
标准号:
SJ 20802-2001
现行
QJ/Z 33-1977 埸效应数字集成(p-mos)电路测试方法
标准号:
QJ/Z 33-1977
已作废
QJ/Z 32-1977 半导体集成比较放大器测试方法
标准号:
QJ/Z 32-1977
已作废
QJ 2690-1994 小批量军用微电路新产品鉴定检验方法和要求
标准号:
QJ 2690-1994
现行
QJ 2212-1991 半导体集成电路设计指南
标准号:
QJ 2212-1991
已作废
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