T/CSTM 00034-2020 硫酸钡基反射层
T/CSTM 00034-2020
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内容简介
本标准规定了硫酸钡基反射层的术语和定义、技术要求、检测方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存等。本标准主要适用于闪烁晶体阵列拼装用硫酸钡基反射层。
起草单位
中国科学院上海硅酸盐研究所、上海硅酸盐研究所中试基地、华中科技大学、东软医疗系统股份有限公司、明峰医疗系统股份有限公司、南开大学、中国计量大学、西北核技术研究所、南京航空航天大学、同济大学、南京光宝光电科技有限公司、上海骋翰光学精密机械有限公司、中国电子科技集团第26研究所、中国科学院长春应用化学研究所、国家硅材料深加工产品质量监督检验中心
起草人
丁栋舟、吴泓澍、侯伟、赵书文、秦超、袁晖、谢庆国、肖鹏、梁国栋、江浩川、秦海明、施俊杰、任国浩、杨帆、秦来顺、史宏声、段宝军、赫崇君、刘波、曹顿华、李铮、吴永庆、佘建军、丁雨憧、王佳、薛冬峰、孙丛婷、李建德
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