标准详情
- 标准名称：自旋转移矩磁随机存储器测试方法
- 标准号：T/CIE 092-2020
- 发布日期：2020-12-21
- 实施日期：2021-01-25
- 中国标准号：/I6550
- 国际标准号：35.220.01
- 团体名称：中国电子学会
- 标准分类：信息处理和存储支持服务数据存储设备综合
T/CIE 092-2020 自旋转移矩磁随机存储器测试方法
T/CIE 092-2020
团体标准 推荐性 现行
收藏
报错
内容简介
本标准给出了自旋转移矩磁随机存储器（Spin-TransferTorqueMagneticRandomAccessMemory，STT-MRAM）的术语、测试原理、被测件、测试环境、测试设备、测试程序等。本标准适用于自旋转移矩磁随机存储器以及内嵌上述存储器的集成电路。
起草单位
北京航空航天大学 、北京智芯微电子科技有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、上海佑磁信息科技有限公司、致真存储（北京）科技有限公司
起草人
赵巍胜、彭守仲、曹凯华、王昭昊、聂天晓、史可文、王佑、邓尔雅、王戈飞、 陈燕宁、付振、潘成、刘芳、卢辉
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，仅供个人标准化学习、研究使用。如有侵权，请及时联系我们！