标准详情
- 标准名称：毫米波频段材料介电性能测试 开放式半球型谐振腔法
- 标准号：T/CSTM 00750-2022
- 发布日期：2022-04-19
- 实施日期：2022-07-19
- 中国标准号：L90/C398
- 国际标准号：31.020
- 团体名称：中关村材料试验技术联盟
- 标准分类：电子元件及电子专用材料制造
T/CSTM 00750-2022 毫米波频段材料介电性能测试 开放式半球型谐振腔法
T/CSTM 00750-2022
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内容简介
本文件规定了使用开放式半球型谐振腔法测试频率在20GHz~60GHz范围内的无机材料、复合板材、工程塑料等材料的相对介电常数实部和损耗角正切值的测量方法
其中，相对介电常数实部的测量范围为2~30，损耗角正切值的测量范围为0.05~0.0001
本文件适用于氧化硅、氧化铝、氮化铝、氧化锆、氮化硼等无机材料，聚四氟乙烯填充二氧化钛等有机/无机复合板材，聚醚醚酮、聚苯乙烯等有机工程塑料的相对介电常数实部和损耗角正切值的测量，也适用于其他类似固体电介质、复合板材、工程塑料材料及其薄膜的相对介电常数实部和损耗角正切值的测量
本文件规定了使用开放式半球型谐振腔法测试频率在20GHz~60GHz范围内的无机材料、复合板材、工程塑料等材料的相对介电常数实部和损耗角正切值的测量方法。其中，相对介电常数实部的测量范围为2~30，损耗角正切值的测量范围为0.05~0.0001。本文件适用于氧化硅、氧化铝、氮化铝、氧化锆、氮化硼等无机材料，聚四氟乙烯填充二氧化钛等有机/无机复合板材，聚醚醚酮、聚苯乙烯等有机工程塑料的相对介电常数实部和损耗角正切值的测量，也适用于其他类似固体电介质、复合板材、工程塑料材料及其薄膜的相对介电常数实部和损耗角正切值的测量。
起草单位
山东国瓷功能材料股份有限公司、中国计量科学研究院
起草人
宋锡滨、任玲玲、朱恒、孙莹莹、艾辽东、奚洪亮、李硕、杨宏伟、邢晶、余承勇、贺光辉、何骁、孙朝宁
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