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- 标准名称:光学晶体 卤化物晶体中微量元素的测定 电感耦合等离子体质谱法
- 标准号:T/CSTM 00317-2023
- 发布日期:2023-01-13
- 实施日期:2023-04-13
- 中国标准号:A43/C398
- 国际标准号:71.040.50
- 团体名称:中关村材料试验技术联盟
- 标准分类:物理化学分析方法电子元件及电子专用材料制造
本文件规定了电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法测定卤化物光学晶体中微量元素的原理、干扰和消除、试剂或材料、仪器和设备、样品、实验步骤、质量保证和质量控制等
本文件适用于卤化物光学晶体(CsI/NaI)、原料以及类似的卤化物光学晶体材料中钙(Ca)、镁(Mg)、铬(Cr)、铅(Pb)、铜(Cu)、钛(Ti)、铁(Fe)、镱(Y)、铕(Eu)、铈(Ce)、镧(La)、铊(Tl)等12种微量元素含量的方法
各元素的方法检出限以及推荐质荷比见附录A
本文件规定了电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法测定卤化物光学晶体中微量元素的原理、干扰和消除、试剂或材料、仪器和设备、样品、实验步骤、质量保证和质量控制等。本文件适用于卤化物光学晶体(CsI/NaI)、原料以及类似的卤化物光学晶体材料中钙(Ca)、镁(Mg)、铬(Cr)、铅(Pb)、铜(Cu)、钛(Ti)、铁(Fe)、镱(Y)、铕(Eu)、铈(Ce)、镧(La)、铊(Tl)等12种微量元素含量的方法。各元素的方法检出限以及推荐质荷比见附录A。
中国科学院上海硅酸盐研究所,上海市硅酸盐学会,中国科学院海西研究院厦门稀土材料研究所。
陈奕睿、刘荣荣、袁兰英、任国浩、许钫钫、宋立军、袁晓红、刘薇、冯思瀚、宁伟、崔新雨、顾中华。
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