SJ 1550-1979 硅外延片检测方法
SJ 1550-1979
行业标准-电子 强制性 已作废
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内容简介
本标准规定了N/N、P/P结构硅外延片的检测方法。其检测项目有外延层电阻率、外延层厚度、层错密度、位错密度、夹层和表面缺陷等
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