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SJ 1550-1979 硅外延片检测方法

SJ 1550-1979 硅外延片检测方法

SJ 1550-1979

行业标准-电子 强制性 已作废
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标准详情

  • 标准名称:硅外延片检测方法
  • 标准号:SJ 1550-1979
  • 发布日期:1980-03-01
  • 实施日期:1980-06-01
  • 中国标准号:CCS8,
  • 国际标准号:
  • 代替标准:
  • 技术归口:
  • 主管部门:
  • 标准分类:冶金半金属与半导体材料半金属

内容简介

本标准规定了N/N、P/P结构硅外延片的检测方法。其检测项目有外延层电阻率、外延层厚度、层错密度、位错密度、夹层和表面缺陷等

起草单位

起草人

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