标准详情
- 标准名称：X射线晶体定向仪 技术条件
- 标准号：JB/T 5482-2004
- 发布日期：2004-06-17
- 实施日期：2004-11-01
- 中国标准号：N33
- 国际标准号：17.180.99
- 代替标准：JB/T 5482-1991
- 技术归口：北京分析仪器研究所
- 主管部门：国家发展和改革委员会
- 标准分类：物理现象计量学和测量有关光学和光学测量的其他标准机械光学和光学测量
JB/T 5482-2004 X射线晶体定向仪 技术条件
JB/T 5482-2004
行业标准-机械 推荐性 有更新版
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内容简介
行业标准《X射线晶体定向仪 技术条件》由北京分析仪器研究所归口上报，主管部门为国家发展和改革委员会。本标准规定了用于单晶定向和测量用的X射线晶体定向仪的要求,试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。
起草单位
丹东市东方晶体仪器有限公司、辽宁仪表研究所等、
起草人
赵久、刘海燕、
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