标准详情
- 标准名称：硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法
- 标准号：GB 1553-1979
- 发布日期：1979-05-26
- 实施日期：1980-01-01
- 中国标准号：8Q
- 国际标准号：
- 代替标准：
- 技术归口：
- 主管部门：
- 标准分类：冶金金属理化性能试验方法金属物理性能试验方法
GB 1553-1979 硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法
measurement of monocrystalline silicon lifetime by d.c photoconductive decay methods
GB 1553-1979
国家标准 推荐性 已作废
收藏
报错
内容简介
起草单位
起草人
相近标准
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，仅供个人标准化学习、研究使用。如有侵权，请及时联系我们！