标准详情
- 标准名称：硅化学抛光片漩涡缺陷和条纹的测试方法
- 标准号：GB 6622-1986
- 发布日期：1986-07-26
- 实施日期：1987-07-01
- 中国标准号：8Q
- 国际标准号：
- 代替标准：
- 技术归口：
- 主管部门：
- 标准分类：冶金金属理化性能试验方法金属无损检验方法
GB 6622-1986 硅化学抛光片漩涡缺陷和条纹的测试方法
detects of swirls and striations in chemically polished silicon wafers
GB 6622-1986
国家标准 推荐性 已作废
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