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SJ/T 11461.5.3-2016 有机发光二极管显示器件 第5-3部分:残像和寿命的测试方法

SJ/T 11461.5.3-2016 有机发光二极管显示器件 第5-3部分:残像和寿命的测试方法

SJ/T 11461.5.3-2016

行业标准-电子 推荐性 现行
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标准详情

  • 标准名称:有机发光二极管显示器件 第5-3部分:残像和寿命的测试方法
  • 标准号:SJ/T 11461.5.3-2016
  • 发布日期:2016-01-15
  • 实施日期:2016-06-01
  • 中国标准号:L47
  • 国际标准号:31.120
  • 代替标准:
  • 技术归口:工业和信息化部电子工业标准化研究院
  • 主管部门:工业和信息化部
  • 标准分类:电子学电子显示器件电子

内容简介

行业标准《有机发光二极管显示器件 第5-3部分:残像和寿命的测试方法》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报,主管部门为工业和信息化部。本标准规定了OLED产品残像试验方法和寿命测试方法。标准的范围为OLED显示器的屏体和模组。残像试验方法充分考虑了不同应用情况的显示器的异同点,对残像的测试图形,以及残像最终的表示方法都有明确和科学的规定。寿命测试方法主要针对亮度衰减进行了相关规定,同时还通过附录的形式采用了加速衰减的方式并可通过公式去推算显示器的寿命。

起草单位

昆山维信诺显示技术有限公司、昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司等、北京维信诺科技有限公司、

起草人

谢静、崔邵智、刘艳玲、

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