标准详情
- 标准名称：电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
- 标准号：GB/T 5095.2503-2021
- 发布日期：2021-03-09
- 实施日期：2021-10-01
- 中国标准号：L23
- 国际标准号：31.220.10
- 代替标准：
- 技术归口：全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
- 主管部门：工业和信息化部（电子）
- 标准分类：电子学电子电信设备用机电元件连接器插头和插座装置
GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation
GB/T 5095.2503-2021
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内容简介
国家标准《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减》由TC166（全国电子设备用机电元件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位
四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院、
起草人
庞斌、朱茗、汪其龙、肖淼、刘俊、
相近标准
20121229-T-339电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-3部分：试验25c：上升时间衰减GB/T5095.2502-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）20121234-T-339电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）GB/T5095.1-1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第1部分:总则GB/T5095.11-1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第11部分:气候试验GB/T5095.9-1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第9部分:杂项试验20121231-T-339电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-5部分：试验25e：回波损耗20121228-T-339电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-1部分：试验25a：串扰比GB/T5095.2501-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-1部分：试验25a：串扰比GB/T5095.2504-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-4部分：试验25d：传输时延
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