SJ 2658.2-1986 半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法

标准详情

• 标准名称：半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法
• 标准号：SJ 2658.2-1986
• 发布日期：1986-10-01
• 实施日期：1986-10-01
• 中国标准号：CCS11,
• 国际标准号：522.559.
• 代替标准：
• 技术归口：
• 主管部门：
• 标准分类：电子学电子元器件与信息技术光电子学激光设备光电子器件半导体发光器件