SJ 20858-2002 碳化硅单晶材料电学参数测试方法

标准详情

• 标准名称：碳化硅单晶材料电学参数测试方法
• 标准号：SJ 20858-2002
• 发布日期：2002-12-12
• 实施日期：2003-05-01
• 中国标准号：CCS8,
• 国际标准号：
• 代替标准：
• 技术归口：
• 主管部门：
• 标准分类：冶金半金属与半导体材料元素半导体材料