SJ/T 11011-2015 电子器件用纯银纤料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测定方法
SJ/T 11011-2015
行业标准-电子
推荐性
现行
标准详情
- 标准名称：电子器件用纯银纤料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测定方法
- 标准号：SJ/T 11011-2015
- 发布日期：2015-10-10
- 实施日期：2016-04-01
- 中国标准号：L90
- 国际标准号：31.030
- 代替标准：SJ/T 11011-1996；SJ/T 11012-1996；SJ/T 11013-1996；SJ/T 11014-1996；SJ/T 11015-1996；SJ/T 11016-1996；SJ/T 11017-1996；SJ/T 11019-1996
- 技术归口：全国印制电路标准化技术委员会
- 主管部门：工业和信息化部
- 标准分类：电子学电子电子技术专用材料
内容简介
行业标准《电子器件用纯银纤料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测定方法》由全国印制电路标准化技术委员会归口上报，主管部门为工业和信息化部。
起草单位
信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院等、中国电科第四十六研究所、
相近标准
SJ/T11030-2015电子器件用金铜及金镍纤料中杂质铅、锌、磷的ICP-AES测定方法SN/T2081-2008氧化铝中杂质元素含量的测定微波溶样ICP-AES法20120951-T-607牙膏中柠檬酸锌含量的测定ICP-AES法SJ/T11018-2016电子器件用纯银钎料的分析方法燃烧碘量法测定硫EJ/T20147-2016钴粉及烧结钴芯块中镁等13种杂质元素的测定ICP-AES法GB/T13372-1992二氧化铀粉末和芯块中杂质元素的测定ICP-AES法SN/T1863-2007铜及铜制品中铜含量的测定快速电解ICP-AES补差法20090163-T-469高纯金化学分析方法第3部分：乙醚萃取分离ICP-AES法测定杂质元素的含量GB/T25934.3-2010高纯金化学分析方法第3部分：乙醚萃取分离ICP-AES法测定杂质元素的含量20073463-T-610镁及镁合金化学分析方法第20部分：ICP-AES测定元素含量
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，仅供个人标准化学习、研究使用。如有侵权，请及时联系我们！