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GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient

GB/T 4326-2006

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标准详情

  • 标准名称:非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
  • 标准号:GB/T 4326-2006
  • 发布日期:2006-07-18
  • 实施日期:2006-11-01
  • 中国标准号:H17
  • 国际标准号:77.040.01
  • 代替标准:GB/T 4326-1984
  • 技术归口:中国有色金属工业协会
  • 主管部门:中国有色金属工业协会
  • 标准分类:冶金金属材料试验金属材料试验综合

内容简介

国家标准《非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法》由610(中国有色金属工业协会)归口上报,TC243(全国有色金属标准化技术委员会)执行,主管部门为中国有色金属工业协会。

起草单位

北京有色金属研究总院、

起草人

王彤涵、

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