SJ 2319-1983 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法

标准详情

• 标准名称：电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
• 标准号：SJ 2319-1983
• 发布日期：1988-06-01
• 实施日期：1988-06-01
• 中国标准号：CCS11,
• 国际标准号：
• 代替标准：
• 技术归口：
• 主管部门：
• 标准分类：电子元器件与信息技术零件结构件电子设备与专用材料电子设备用绝缘零件