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DB35/T 1146-2011 硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法
标准号：
DB35/T 1146-2011
现行
DB65/T 3486-2013 太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法
标准号：
DB65/T 3486-2013
现行
DB65/T 3485-2013 太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法
标准号：
DB65/T 3485-2013
现行
YS/T 1510-2021 高纯锗粉
标准号：
YS/T 1510-2021
现行
SJ 21535-2018 电力电子器件用碳化硅外延片规范
标准号：
SJ 21535-2018
现行
SJ 21536-2018 微波功率器件及集成电路用砷化镓外延片规范
标准号：
SJ 21536-2018
现行
SJ 21479-2018 磷化铟晶片研磨工艺技术要求
标准号：
SJ 21479-2018
现行
SJ 21475-2018 磷化铟单晶片几何参数测试方法
标准号：
SJ 21475-2018
现行
SJ 21477-2018 磷化铟多晶材料合成工艺技术要求
标准号：
SJ 21477-2018
现行
SJ 21478-2018 磷化铟单晶生长工艺技术要求
标准号：
SJ 21478-2018
现行
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