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半导体器件综合
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SJ 20014-1992 半导体分立器件 gp、gt和gct级3cg110型pnp硅小功率晶体管详细规范
标准号:
SJ 20014-1992
现行
SJ 20016-1992 半导体分立器件 gp、gt和gct级3dg182型npn硅小功率高反压晶体管详细规范
标准号:
SJ 20016-1992
现行
QJ 2661-1994 硅桥式整流器筛选技术条件
标准号:
QJ 2661-1994
现行
QJ 2502-1993 抗辐射加固半导体分立器件通用技术条件
标准号:
QJ 2502-1993
现行
QJ 2192.1-1991 半导体光电器件筛选技术条件
标准号:
QJ 2192.1-1991
已作废
GJB 923A-2004 半导体分立器件外壳通用规范
标准号:
GJB 923A-2004
现行
GJB 5914-2006 各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法
标准号:
GJB 5914-2006
现行
GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序
标准号:
GJB 548B-2005
现行
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