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SJ/T 11586-2016 半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法

SJ/T 11586-2016 半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法

SJ/T 11586-2016

行业标准-电子 推荐性 现行
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标准详情

  • 标准名称:半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法
  • 标准号:SJ/T 11586-2016
  • 发布日期:2016-01-15
  • 实施日期:2016-06-01
  • 中国标准号:L40
  • 国际标准号:31.080.01
  • 代替标准:
  • 技术归口:工业和信息化部电子工业标准化研究院
  • 主管部门:工业和信息化部
  • 标准分类:电子学电子半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

行业标准《半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报,主管部门为工业和信息化部。

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、

起草人

罗宏伟、何玉娟、恩云飞、

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