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半导体分立器件
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DB52/T 1104-2016 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法
标准号:
DB52/T 1104-2016
废止
DB35/T 1611-2016 COB 封装白光发光二极管技术规范
标准号:
DB35/T 1611-2016
现行
DB52/T 844-2013 半导体电流调整管
标准号:
DB52/T 844-2013
废止
DB52/T 860-2013 5KP系列硅瞬态电压抑制二极管详细规范
标准号:
DB52/T 860-2013
废止
DB52/T 861-2013 2CB003型硅雪崩整流二极管详细规范
标准号:
DB52/T 861-2013
废止
DB53/T 495-2013 高原型高压变频装置
标准号:
DB53/T 495-2013
现行
DB12/T 413-2009 LED密排管测试方法
标准号:
DB12/T 413-2009
现行
SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
标准号:
SJ/T 11766-2020
现行
SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法
标准号:
SJ/T 11767-2020
现行
SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法
标准号:
SJ/T 11765-2020
现行
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