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SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法

SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法

SJ/T 11767-2020

行业标准-电子 推荐性 现行
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标准详情

  • 标准名称:二极管低频噪声参数测试方法
  • 标准号:SJ/T 11767-2020
  • 发布日期:2020-12-09
  • 实施日期:2021-04-01
  • 中国标准号:L41
  • 国际标准号:31.080.01
  • 代替标准:
  • 技术归口:基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
  • 主管部门:工业和信息化部
  • 标准分类:电子学电子半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

行业标准《二极管低频噪声参数测试方法》由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组归口上报,主管部门为工业和信息化部。本标准规定了二极管1HZ~300KHZ频率范围内的噪声参数测试方法及要求。

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、重庆赛宝工业技术研究院等、西安电子科技大学、

起草人

余永涛、胡为、恩云飞、

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