标准详情
- 标准名称：半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法
- 标准号：SJ 3249.1-1989
- 发布日期：1989-03-20
- 实施日期：1989-03-25
- 中国标准号：CCS1,
- 国际标准号：441.457.
- 代替标准：
- 技术归口：
- 主管部门：
- 标准分类：电气工程综合半导体材料标准化管理与一般规定技术管理
SJ 3249.1-1989 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法
SJ 3249.1-1989
行业标准-电子 强制性 已作废
收藏
报错
内容简介
本标准规定了半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料电阻率的测量原量,仪器设备,测量步骤,计算方法。 本标准适用于室温电阻率为10^(6)~10^(8)Ω·cm均匀的砷化镓和磷化铟体单品半绝缘材料、电阻率在10^(4)~10^(5)Ω·cm时也可参照使用。
起草单位
起草人
相近标准
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，仅供个人标准化学习、研究使用。如有侵权，请及时联系我们！