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YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

YS/T 1160-2016

行业标准-有色金属 推荐性 现行
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标准详情

  • 标准名称:工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
  • 标准号:YS/T 1160-2016
  • 发布日期:2016-07-11
  • 实施日期:2017-01-01
  • 中国标准号:H12
  • 国际标准号:29.045
  • 代替标准:
  • 技术归口:
  • 主管部门:工业和信息化部
  • 标准分类:电气工程半导体材料有色金属

内容简介

行业标准《工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法》,主管部门为工业和信息化部。本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定,测定范围:≥1%。

起草单位

起草人

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