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GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压

GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压

Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 2: Low air pressure

GB/T 4937.2-2006

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标准详情

  • 标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
  • 标准号:GB/T 4937.2-2006
  • 发布日期:2006-08-23
  • 实施日期:2007-02-01
  • 中国标准号:L40
  • 国际标准号:31.080.01
  • 代替标准:
  • 技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会
  • 主管部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、

起草人

崔波、陈海蓉、

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