标准详情
- 标准名称:砷化镓、磷化铟单晶晶向的测量方法
- 标准号:SJ 3244.3-1989
- 发布日期:1989-03-20
- 实施日期:1989-03-25
- 中国标准号:CCS1,
- 国际标准号:441.457.
- 代替标准:
- 技术归口:
- 主管部门:
- 标准分类:电气工程综合半导体材料标准化管理与一般规定技术管理
本标准规定了砷化镓、磷化铟单晶锭端面及晶片晶向的X射线衍射测量原理、测量步骤、结果计算以及精度。 本标准适用于晶片表面大体平行于(10^(·)以内)某一低密勒指数原子面的单晶片的晶向测定。
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