SJ/T 11494-2015 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
SJ/T 11494-2015
行业标准-电子 推荐性 现行
收藏
报错
内容简介
行业标准《硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法》由全国半导体设备和材料标准化技术委员会归口上报,主管部门为工业和信息化部。
起草单位
信息产业专用材料质量监督检验中心、苏州晶瑞化学有限公司等、工业和信息化部电子工业标准化研究院、
起草人
李静、何秀坤、刘兵、
相近标准
20070858-T-469硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法GB/T24574-2009硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法GA/T593-2006光致发光照相、录像方法规则20073568-T-469低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法GB/T24581-2009低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法碳化硅外延片基面位错的测试光致发光法计时仪器光致发光涂层试验方法和要求QB/T4004-2010计时仪器光致发光涂层试验方法和要求20191279-T-607计时仪器光致发光涂层试验方法和要求GB/T40359-2021计时仪器光致发光涂层试验方法和要求
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,仅供个人标准化学习、研究使用。如有侵权,请及时联系我们!