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SJ/T 2658.9-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第9部分:辐射强度空间分布和半强度角

SJ/T 2658.9-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第9部分:辐射强度空间分布和半强度角

SJ/T 2658.9-2015

行业标准-电子 推荐性 现行
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标准详情

  • 标准名称:半导体红外发射二极管测量方法 第9部分:辐射强度空间分布和半强度角
  • 标准号:SJ/T 2658.9-2015
  • 发布日期:2015-10-10
  • 实施日期:2016-04-01
  • 中国标准号:L53
  • 国际标准号:31.080
  • 代替标准:SJ/T 2658.9-1986
  • 技术归口:工业和信息化部电子工业标准化研究院
  • 主管部门:工业和信息化部
  • 标准分类:电子学电子半导体分立器件

内容简介

行业标准《半导体红外发射二极管测量方法 第9部分:辐射强度空间分布和半强度角》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报,主管部门为工业和信息化部。

起草单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院、

起草人

张戈、赵英、

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