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SJ/T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求
标准号:
SJ/T 11769-2020
现行
SJ/T 10876-2020 电子元器件详细规范 CT52型圆片穿心瓷介电容器 评定水平EZ
标准号:
SJ/T 10876-2020
现行
SJ/T 10998-2020 电子元器件详细规范 CBB13型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ
标准号:
SJ/T 10998-2020
现行
SJ/T 11762-2020 半导体设备制造信息标识要求
标准号:
SJ/T 11762-2020
现行
SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
标准号:
SJ/T 11766-2020
现行
SJ/T 2307.1-2020 电子元器件详细规范 浪涌抑制型压敏电阻器 MYL1型防雷用氧化锌压敏电阻器 评定水平E
标准号:
SJ/T 2307.1-2020
现行
SJ/T 1543-2020 电真空器件用镍及镍合金光谱分析方法
标准号:
SJ/T 1543-2020
现行
SJ/T 11763-2020 半导体制造设备人机界面规范
标准号:
SJ/T 11763-2020
现行
SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法
标准号:
SJ/T 11767-2020
现行
SJ/T 1542-2020 电真空器件用镍及镍合金化学分析方法
标准号:
SJ/T 1542-2020
现行
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