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SJ/T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法
标准号:
SJ/T 11500-2015
现行
SJ/T 11493-2015 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法
标准号:
SJ/T 11493-2015
现行
SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法
标准号:
SJ/T 11501-2015
现行
YS/T 724-2016 多晶硅用硅粉
标准号:
YS/T 724-2016
现行
SJ 21122-2016 PVTSiC76SI1-BP01型碳化硅单晶抛光片规范
标准号:
SJ 21122-2016
确认有效
SJ 21120-2016 高电子迁移晶体管用半绝缘砷化镓抛光片规范
标准号:
SJ 21120-2016
确认有效
SJ 21121-2016 PVTCdSN1/T-BP01型硫化镉单晶抛光片规范
标准号:
SJ 21121-2016
确认有效
YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
标准号:
YS/T 1160-2016
现行
YS/T 1167-2016 硅单晶腐蚀片
标准号:
YS/T 1167-2016
现行
SJ/T 11552-2015 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
标准号:
SJ/T 11552-2015
现行
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