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半金属与半导体材料
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SJ 21122-2016 PVTSiC76SI1-BP01型碳化硅单晶抛光片规范
标准号:
SJ 21122-2016
确认有效
SJ 21120-2016 高电子迁移晶体管用半绝缘砷化镓抛光片规范
标准号:
SJ 21120-2016
确认有效
SJ 21121-2016 PVTCdSN1/T-BP01型硫化镉单晶抛光片规范
标准号:
SJ 21121-2016
确认有效
YS/T 543-2006(2012) 半导体键合铝-1%硅细丝
标准号:
YS/T 543-2006(2012)
已作废
YS/T 557-2006(2012) 压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法
标准号:
YS/T 557-2006(2012)
现行
YS/T 209-1994 硅材料原生缺陷图谱
标准号:
YS/T 209-1994
已作废
YS/T 68-1993 砷
标准号:
YS/T 68-1993
已作废
YS/T 557-2006 压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法
标准号:
YS/T 557-2006
现行
YS/T 290-1994 霍尔器件和甘氏器件用砷化镓液相外延片
标准号:
YS/T 290-1994
已作废
YS/T 224-1994(2009) 铊
标准号:
YS/T 224-1994(2009)
已作废
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