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半金属与半导体材料
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YS/T 209-1994(2005) 硅材料原生缺陷图谱
标准号:
YS/T 209-1994(2005)
已作废
SN/T 0550.1-1996 出口金属硅中铁、铝、钙的测定 分光光度法
标准号:
SN/T 0550.1-1996
已作废
SN/T 0550.2-1996 出口金属硅中铁、铝、钙的测定 容量法
标准号:
SN/T 0550.2-1996
现行
SJ/Z 2447-1984 硅单晶晶体缺陷图集
标准号:
SJ/Z 2447-1984
已作废
SJ 2445-1984 硅材料中金属杂质含量的堆中子活化分析方法
标准号:
SJ 2445-1984
已作废
SJ 2439-1984 硅单晶棒、片
标准号:
SJ 2439-1984
已作废
SJ 2441-1984 稳压管用硅单晶片
标准号:
SJ 2441-1984
已作废
SJ 2440-1984 中子嬗变掺杂硅单晶棒、片
标准号:
SJ 2440-1984
已作废
SJ 20858-2002 碳化硅单晶材料电学参数测试方法
标准号:
SJ 20858-2002
现行
SJ 1551-1979 硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行)
标准号:
SJ 1551-1979
已作废
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