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半导体分立器件综合类标准规范免费下载

GB/T 4937.13-2018 半导体器件机械和气候试验方法第13部分：盐雾

标准号：GB/T 4937.13-2018

现行
GB/T 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动

标准号：GB/T 4937.12-2018

现行
GB/T 4937.11-2018 半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法

标准号：GB/T 4937.11-2018

现行
GB/T 249-2017 半导体分立器件型号命名方法

标准号：GB/T 249-2017

现行
GB/T 29332-2012 半导体器件分立器件第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT)

标准号：GB/T 29332-2012

现行
GB/T 4937.4-2012 半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）

标准号：GB/T 4937.4-2012

现行
GB/T 4937.3-2012 半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检

标准号：GB/T 4937.3-2012

现行
GB/T 4937.2-2006 半导体器件机械和气候试验方法第2部分:低气压

标准号：GB/T 4937.2-2006

现行
GB/T 4937.1-2006 半导体器件机械和气候试验方法第1部分: 总则

标准号：GB/T 4937.1-2006

现行
GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

标准号：GB/T 4589.1-2006

现行