SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法

标准详情

• 标准名称：硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
• 标准号：SJ 966-1975
• 发布日期：1975-07-26
• 实施日期：1976-06-01
• 中国标准号：CCS11,
• 国际标准号：522.540.542.
• 代替标准：
• 技术归口：
• 主管部门：
• 标准分类：电子学二极管电子元器件与信息技术半导体分立器件半导体器件半导体二极管